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| 元素分析 Element |
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| 金屬材料元素成分分析,玻璃陶瓷材料可以由元素比例,高分子中金屬添加物的元素比例。 元素分析是一般材料分析內最常見的分析方法。 – 金屬材料元素分析可以知道金屬材料的型號是否正確(PMI),亦可判斷成份比例是否在可接受范圍內,許多金屬材料僅差異在C元素,如:高碳鋼、中碳鋼、低碳鋼,或是焊接需要碳當量(C),某些元素普遍存在是因為分析工具難以取得,所以對此元素不易了解。Ex. 硼(Be) – 陶瓷材料可以由元素比例判斷是哪一種陶瓷,元素比例影響強度、電性、磁性、物性… – 高分子中的元素比例牽涉到是否刻意添加。(Ex. 白金交聯(Pt)、硫(S)化交聯),還是避免添加的有害物質(Pb, Cd..) – 元素分析工具包括XRF(X-ray熒光分析)、LIBS(激光破裂分析光譜)、AA(原子吸收光譜)、ICP(感應偶合放射光譜)、ICP-MS(感應偶合放射質譜)、EA(有機元素分析儀)、Spark(火花測試)… 根據應用方向及所需測試濃度可以選擇適合的分析工具。 |
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桌上型X射線熒光分析儀
產品型號:EA1200VX
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桌上型X射線熒光分析儀
產品型號:EA6000VX
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異物影像及元素混合型分析系統
產品型號:EA8000
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EA1300 VX 食品專用XRF
產品型號:EA1300VX
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貴重金屬快篩分析儀
產品型號:GoldXpert
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手持式X射線熒光分析儀(合金)
產品型號:VANTA-2000 (Alloy)
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手持式X射線熒光分析儀(土壤 / 環境)
產品型號:VANTA-4000 (Soil)
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手持式X射線熒光分析儀(礦物)
產品型號:VANTA-6000 (Mining)
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手持式X射線熒光分析儀(RoHS)
產品型號:VANTA-6500 (RoHS)
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金屬膜厚分析儀 FT150/FT150H/150L
產品型號:FT150
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X射線熒光鍍層厚度測量儀
產品型號:FT110A












